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日立高新通用多功能原子力顯微鏡5100N
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產品/服務: 瀏覽次數:32日立高新通用多功能原子力顯微鏡5100N 
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AFM5100N除了激光檢測方式之外,全新的「自檢測懸臂」,在保證高分辨表面形貌觀察的同時,大大簡化了AFM懸臂操作。
詳細信息
AFM5100N除了激光檢測方式之外,全新的「自檢測懸臂」,在保證高分辨表面形貌觀察的同時,大大簡化了AFM懸臂操作。
特點
1. 簡便的懸臂安裝
通常的懸臂是非常渺小而且很難操作,內部裝有傳感器的「自檢測懸臂」比普通的AFM探針要大得多,容易拿取,安裝非常簡單方便。
2. 不用調整激光光斑的自檢測方式
激光檢測方式的探針需要調節激光光斑的位置,操作復雜,而采用自檢測方式的「自檢測懸臂」無需調節激光光斑。
3. 精確的懸臂定位
懸臂的機械結構,能夠以俯視方式直接觀察懸臂的位置,從而輕松調整樣品的測量的位置。除此之外,更加尖銳的探針提高了分辨率。
4. 方便的操作導航系統
通過流程圖形式的導航系統,任何人都可以輕松地進行高分辨表面測量。另外,通過設定樣品的軟硬度和凹凸系數等參數,能夠簡單確定測量條件。
5. 緊湊的主機
主機上包含減震臺、隔音罩、光學顯微鏡等附件,安裝緊湊,體積小巧。
6. 優越的擴展功能
通過激光檢測方式,能夠擴展各種各樣的選配功能。另外,只要插拔一根電纜就能夠切換成激光檢測方式。
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